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Startseite /Lehrstuhl /Ausstattung /Elektronikproduktion /Röntgenfluoreszenz Schichtdickenmessgerät Fischerscope XDLM-C4 XYZ

Röntgenfluoreszenz Schichtdickenmessgerät Fischerscope XDLM-C4 XYZ

Spezifikation
Röntgenröhre	50kV
z-Hub	bis zu 80 mm

Ansprechpartner:

Philipp Bräuer (M. Sc.)
Dipl.-Ing. Gerald Gion

Lehrstuhl FAPS

Friedrich-Alexander-Universität
Erlangen-Nürnberg
Schlossplatz 4
91054 Erlangen

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