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Reflow-Konvektionslötofen mit integriertem Vakuummodul. Das Vakuummodul ermöglicht es Poren, Gaseinschlüsse und Voids direkt nach dem Lötvorgang zu minimieren – solange sich das Lot noch im aufgeschmolzenen Zustand befindet werden die Werkstücke direkt aus den Peakzonen in den Vakuumprozess übergeben.

• Vorheizzonen: 8
• Peakzonen: 2+ Vakuumkammer
• Kühlzonen: 4
• Zonenlänge Vorheizzonen / Peakzonen / Kühlzonen: 350 mm
• Maximal zulässige Heiztemperatur / Vorheizzonen: 300 °C
• Maximal zulässige Heiztemperatur / Peakzonen: 350 °C
• Maximal zulässige Heiztemperatur / Vakuumkammer: 260 °C
• Freiraum über Transport: 30 mm

Die Maschine ist zum Crimpen von Einzeladern oder mehradrigen Mantelleitungen an automatisch zugeführte Kontakte konzipiert.

 

Verarbeitbare Materialien
Leitung: Einzeladern oder mehradrige Mantelleitungen
Drahtquerschnitt: < 6 mm²
Kontakte: längs- oder quergegurtete Bandware

Leistung und Geometrie
Antrieb: 0,75 kW Drehstrommotor
Motordrehzahl: 440 – 2000 U/min
Presskraft: 20 kN
Hub: 40 mm
Schließhöhe: 135,78 mm

Steuerung
Bedienoberfläche: STI 2015
Display: Touchscreen

Anschlüsse und Schnittstellen
Stromversorgung: 230 V, 50/60 Hz
Druckluft: 6 bar
Netzwerk: RJ-45

Abmessungen und Gewicht
Breite x Tiefe x Höhe: 830 x 600 x 700 mm
Gewicht: 112 kg

 

Herausragendes Rasterelektronenmikroskop der Fa. TESCAN mit einzigartiger Kombination aus feldfreier Ultra-High-Resolution BrightBeam™ REM-Optik und Xenon Plasma-FIB. Damit können unterschiedlichste Applikationen präzise präpariert, analysiert und schließlich charakterisiert werden. Das high-end System AMBER X ist bestens geeignet für hohe Durchsätze, großflächiges Ionenpolieren und eine feldfreie bis zu 0,9nm ultrahochauflösende Bildgebung zur 2D- und 3D-Charakterisierung auf unterschiedlichsten konventionellen und neuartigen Materialien. Zusätzlich ist ein vollintegriertes RAMAN Mikroskop der Fa. WITec verbaut, mit welchem sich Struktur, Oberfläche und molekulare Bestandteile an derselben Probenstelle messen und wechselweise in Beziehung setzen lassen. Komplettiert wird das System durch einen EDX- und EBSD Detektor der Fa. Bruker. EBSD ist eine sehr leistungsfähige Technik zur Analyse von Mikrostrukturen und zur Phasenidentifikation. Durch die Messung der Gitterorientierung der Körner und die Ermittlung der Phasenverteilung hilft EBSD dabei, die kristallographisch bevorzugten Ausrichtungen zu bestimmen und Verformungs- und Phasenumwandlungsmechanismen zu verstehen. Mit dem EDX-Detektor kann die spezifische elementare Zusammensetzung einer Materialoberfläche dargestellt werden. All diese mikroanalytischen Werkzeuge bieten darüber hinaus ein beispielloses Potenzial für die multimodale FIB-REM-Tomographie.

Maschinendaten

BrightBeam™ Field-Free UHR-SEM Säule

• Maximaler Field of view (Fov): 7 mm at WD = 6 mm; > 50 mm bei maximaler Working Distance (WD)
• Elektronenstrahl-Landeenergie: 50 eV – 30 keV
• Strahlstrom: 2 pA – 400 nA, kontinuierlich einstellbar
• Auflösung: 1,5 nm bei 1 keV und 0.9 nm bei 15 keV (feldfrei)
• Vergrößerung: 2x – 2.000.000x

Detektoren

• Everhart-Thornley (E-T) Kammer-Detektor für BrightBeam™ UHR Säule
• Motorisiert rückziehbarer YAG BSE-Detektor
• In-Beam Multidetektor mit zuschaltbarer Energiefilterung für SE- und BSE-Elektronen
• HADF-R-STEM Detektor, motorisiert

 i-FIB+™ Plasma Focused Ion Beam Column (Xenon Plasma-FIB)

• Anregungsspannung: 3 keV – 30 keV
• Maximaler Field of view (Fov): 1 mm
• Strahlstrom: 1 pA – 3 µA
• Auflösung: < 15 nm bei 30 keV

TESCAN Essence FIB-SEM Tomographie

Platin Gas Injektionssystem (GIS)

3D Nano-Manipulator zur TEM-Lamellen Extraktion

 

Kofinanziert durch die

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Spezifikation
Anzahl Prüfstränge	2
DUT (Device under Test)	bis zu 20 (mehr …)

Technische Spezifikationen: